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課程名稱：104年成像技術與應用研討 (三)
題目：Maximum-likelihood Estimation應用於單晶塊閃爍偵檢器之介紹
主講人：吳祥寧 先生
時間：104年2月10日(星期二) 15:30~16:30
地點：010館 2F 會議室
聯絡人：黃宣雅 分機：7984
備註: 參加人員可登錄終身學習時數1小時
歡迎大家踴躍參加!!
使命：以核安、核後端、核醫製藥與民生輻射應用、新能源與跨領域系統整合等為發展主軸，實現低碳社會及增進民生福祉。願景：成為全國最值得信賴的原子能研發機構，發展核安、核後端、民生輻射應用與綠能科技等關鍵技術。
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