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題目：「潛變行為對晶圓級封裝之可靠度影響分析」、「火害後圓弧切削減弱式梁柱接頭反覆載重試驗之數值模擬」

主講人：李至軒、劉品瑄

時間：108年02月25日(星期一)13:30~15:30

地點：005A館1樓會議室

聯絡人：葉芳禎分機：3308

歡迎參加、敬請公布

※參加人員可登錄終身學習時數2小時，請先至研習線上登錄報名，謝謝。